七月中旬，EB-LINK 完成百兆/千兆 SFP 光模块出厂测试流程的强化，在逐只链路测试基础上新增 DDM 阈值判定与批次兼容性抽测两个环节，把临界品拦在厂内。
测试环节增加了什么
- 逐只读取 TX/RX 光功率、温度与供电电压，超出阈值即拦截
- 按批次在思科、华为、H3C、锐捷等主流平台上样测试
- 20KM 以上长距型号加测灵敏度侧余量
- 外观与标签复核，杜绝错贴型号与串货
为什么重点强化百兆千兆
百兆/千兆模块用量大、分布场景杂，从园区接入层一直到监控点位箱都在用。小比例问题叠上大基数，现场代价就很可观：一个端口闪断或误报，排查常以小时计。把测试颗粒度细化到单只模块的 DDM 数值，能在出厂阶段挡掉大部分临界品；对分批到货的项目，出厂数据口径一致也意味着现场参数可以直接套用。
客户侧能感受到什么
后续发货的SFP百兆单模双纤20KM光模块与SFP千兆单模双纤10KM光模块等型号将随附批次测试记录，批量客户可提前申请对口平台的样机测试，EB-LINK 技术支持工作日响应。
本次强化已覆盖现有百兆千兆备货系列，2.5G 与万兆型号的测试流程升级将分批推进，项目咨询可致电 0755-83179002，也可一并查询在库批次的测试数据。