九月底，EB-LINK 完成 PCIe 存储扩展卡出厂质检流程升级，在原有外观与焊接检查的基础上，把逐卡满载老化测试纳入全型号必检项，覆盖专区在售的单口到四口系列。
新流程增加了三道关卡
- 满载读写老化：每条盘位挂满高速盘，连续全速读写，剔除间歇性掉速卡；
- 温升对比：记录满载状态下卡上各点温度，与基准曲线比对；
- 多系统识别：在 Windows、Linux 双平台核验设备识别与通道枚举结果。
为什么重点盯满载与温升
现场反馈的扩展卡偶发故障，大多发生在多盘满载加机箱高温的叠加工况，而不是单盘轻载环境。四口双面这类高密度型号更容易暴露散热短板，因此本次升级优先覆盖 PCI-EX16转M.2四口扩展卡（双面旗舰版） 与混合型号 PCI-EX8转4口M.2+4口SATA扩展卡，再逐步推广到全部系列。
对用户意味着什么
升级后每批货随附测试记录，工程验收可直接引用；批量采购客户可预约现场看测。技术支持同步更新了常见测试问题的排查指引，咨询电话 0755-83179002，工作日响应。
单口入门型号如 PCI-EX4转M.2单口扩展卡 也已按新流程复测通过，现有现货批次将陆续切换为新检版本，旧批次库存会在产品参数页明确标注质检流程版本，采购时可据此核对验收标准，避免批次混用带来的资料不一致。